项目详情
球差是像差的一种，是影响TEM分辨率的主要原因之一。
用途及功能：
形貌观察：对各种材料内部微结构进行二维显微形貌观察，包括常见的粉末、纳米颗粒形貌和粒径观察；配合三维重构可以得到三维立体形貌；
结构分析：利用选区电子衍射、高分辨透射图像、高分辨扫描透射图像等分析材料的结构
成分分析：配合能谱仪可以对样品元素做点、线、面、体分布分析，可以得到原子分辨率的元素面分布图像
可做项目：TEM，STEM，EDS，Mapping，SAED，EELS
制样要求
1、块体用FIB制样，厚度30nm左右；
2、粉末至少提供10mg左右，确保样品干净、未吸附有机物，原则上只接受原样，请勿自行分散；
3、液体至少0.5ml，不含表面活性物质；
4、纳米颗粒或者纳米片建议用微栅或者超薄碳膜制样；
5、请明确样品磁性（可用磁铁吸引判断）
6、不耐高温、易分解、易相变等样品及特殊晶面要求请提前告知；
7、要求样品无毒、无放射性、干燥无污染、热稳定性好、耐电子束轰击。
预约事项
1、制样用微栅或者超薄碳膜；
2、所有的样品拍摄之前需要用高分辨TEM预观察，确保样品制备成功；
3、预约下单前请确保已经和负责老师沟通确认过条件，避免有些情况无法满足您的要求！！！
