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  • 原位XRD

    原位XRD表征作为一种XRD的衍生测试手段,不仅能够满足非原位XRD对晶态材料物相分析,而且还能够实现对晶态材料、二次电池元器件进行原位高低温、充放电特殊气氛等条件下的晶体结构测试及分析。
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  • 原位拉曼

    原位拉曼可以研究在光照情况下,样品性能变化。
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  • 原位红外(In Situ FTIR)

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  • 原位透射电子显微镜(In Situ TEM)

    原位透射电子显微学是指直接在原子层次观察样品在力、热、电、磁作用下以及化学反应过程中的微结构演化及进行表征的过程。
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  • 原位XPS

    原位加热,原位辐照等原位条件获取分子结构和原子价态等信息。
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