项目详情
场发射扫描电子显微镜SEM，是一种用于高分辨形貌观察的大型精密仪器，具有景深大、分辨率高, 成像直观、立体感强、放大倍数范围宽以及待测样品可在三维空间内进行旋转和倾斜等特点。可测样品种类丰富, 几乎不损伤和污染原始样品以及可同时获得形貌、结构、成分和结晶学信息等优点。
可做的测试项目：
形貌、能谱点扫、能谱线扫、能谱面扫（mapping）；非磁、弱磁、强磁样品均可拍摄。
制样要求
1、块体、片状、薄膜尺寸小于1*1*0.5cm；粉末样品大于10mg；
2、块体、片状、薄膜样品请标注测试面；如需测试截面，请自行自备截面或提前说明截面制备方式，粉末不能测试线扫；
3、含水样品测试时均需干燥后测试，湿润是不能做SEM的；
4、备注照片倍数；
5、能谱备注理想区域，如有标尺要求请备注，如果没有备注，常规测试；
6、样品含磁性送样前如实告知；
7、关于冷场热场，下单请注明；
8、能谱图上会有文字，不要文字的需要自己处理；
9、若有预期的形貌和标尺、放大倍数，最好在订单中以文字说明;
10、样品要求无毒、无放射性、干燥无污染、热稳定性好、耐电子束轰击。
预约事项
1、请务必仔细检查您的样品，若发现以弱磁或强磁样品充当非磁，我们将可能无法安排您的实验，不承担以此造成的时间和样品损失；而且因隐瞒样品信息导致仪器损坏，可能需要您承担全部赔偿责任！
2、预约下单前请先扫码和客服人员进行沟通，避免有些情况无法满足您的要求。
