项目详情
通过对材料进行X射线衍射，得到其衍射图谱，可获得材料的成分、内部原子或分子的结构或形态等信息，可用于物相鉴定，粒径表征，点阵参数、结晶度、残余应力、晶体取向及织构的测定，具有不损伤样品、无污染、快捷、高精度、可获取信息量大等优点。
制样要求
1、样品状态：可为粉末、块状、薄膜样品、液体样品可以涂在载玻片上干燥之后测试（有可能测试到基底，请悉知）
2、粉末：样品>50mg（如样品密度偏大，请适量增加），粒度＜200目，手搓无明显颗粒感，越细越好；请尽量用样品管送粉末样，用样品袋盛装难以刮下且易损失，可能影响测试效果。
3、块体/薄膜样品：（1）至少有一表面为平整光洁平面。（2）若为立方体则平面长宽≤20mm，且厚度范围50微米～15毫米；（3）若为圆柱体则直径≤20mm，高≤15mm；样品请注明测试面；
4、较薄的薄膜/涂层样品（厚度＜100nm）请慎重选择广角XRD；
5、微区XRD样品需标记待测点，束斑最小为0.01mm，样品高度应不超过8mm，待测面应平整光滑。
预约事项
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