项目详情
一、XPS可以做的项目：
常规全谱窄谱测试、俄歇谱、价带谱、深度溅射、MAPPING、角分辨
二、电子能谱法的特点：
1. 不可分析H 和 He 元素；
2. 可以直接测定来自样品单个能级光电发射电子的能量分布，且直接得到电子能级结构的信息。
3. 是一种无损分析。
4. 它提供有关化学键方面的信息，即直接测量价层电子及内层电子轨道能级。而相邻元素的同种能级的谱线相隔较远，相互干扰少，元素定性的标识性强。
5. 是一种高灵敏超微量表面分析技术。分析所需试样极少量即可，样品分析深度0.5-10nm 。
三、X 射线光电子能谱法的应用:
1. 元素定性分析
2. 元素定量分折
3. 固体表面分析
4. 化合物结构签定
制样要求
1、预处理尺寸要求：块状/片状/薄膜：长宽厚不超出1 cm × 1 cm × 3 mm（磁性样品尽量小）（对块状样品或薄膜样品的测试面做好标记）；粉末样品大于200目，不少于10mg，量少请用称量纸包好再装到管子里寄送。请勿用手触摸样品表面，会引入污染。制好样后请尽快密封，避免其他物质污染；
2、送样前样品需充分干燥，否则影响仪器真空度。高分子样品在送样前应进行干燥处理。若含有高挥发性分子等请务必烘烤；
3、样品含有硫或碘等卤族元素请务必填写或者提前告知，避免污染高真空系统；
4、样品在超高真空及在X射线、紫外线、电子束或Ar离子束照射下应稳定，不分解、不释放气体。
预约事项
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