项目详情
1、UPS数据分析导体可以测试分析得到样品功函数，价带结构，费米能级默认是0eV。
2、导电性好的半导体样品可以测试分析得到样品功函数和价带顶位置及价带结构。
3、导电性差的半导体或者绝缘体可以测试分析得到样品价带顶位置。
制样要求
1、样品要求：块体或薄膜，尺寸小于1cm*1cm，厚度小于2mm，最好是新鲜干燥的薄膜、块体材料，表面平整无污染（请标记好测试面）。
2、粉体样品需要制备为薄膜，具体制备方法及要求如下：先把粉末样品分散在水或乙醇里（浓度尽量低点），滴在硅片上烘干，可以多循环几次，一定要保证膜表面尽量平整、均匀、连续、整洁，硅片尺寸5*5mm-5*8mm，厚度几百μm，涂完膜干燥后膜层以完全覆盖住硅片即可（膜层厚度10-50nm即可），膜层的电阻最好小于10兆欧，最大不能超过30兆欧。
预约事项
预约下单前请确保已经和老师沟通确认过条件，避免有些情况无法满足您的要求。
